Растровая электронная микроскопия (РЭМ)

Исследование структуры и дефектов

Исследование поверхности, сварных и паяных соединений, анализ причин отказов на микроуровне.

Нужны испытания, расчёт надёжности или испытательное оборудование?

Опишите задачу или пришлите программу испытаний — вернёмся с технико-коммерческим предложением.

Ответим в течение рабочего дня.